Електронна спектроскопія

Електрóнна спе́ктроскопíя — аналітичний метод дослідження електронної структури атомів і молекул та її динаміки, розділ фізики, який вивчає розподіл інтенсивності потоку електронів в залежності від їхньої кінетичної енергії. Електронна спектроскопія поєднує низку експериментальних методів, які дозволяють отримувати спектри електронів для подальшого аналізу. Наприклад у фотоелектронній спектроскопії реєструють спектр фотоелектронів, що вилетіли із досліджуваного зразка під дією світла.

Метод зародився в Уппсальському університеті (Швеція), автором виступив Кай Сігбан, за що отримав в 1981 році Нобелівську премію. Значними центрами розвитку електронної спектроскопії є Москва, Єкатеринбург, Санкт-Петербург та Іжевськ.

Особливістю електронної спектроскопії є мала глибина аналізуючого шару, яка визначається середньою довжиною вільного пробігу електронів від одиниць і десятків атомних шарів для металів до сотень і тисяч шарів для напівпровідників та ізоляторів. Ці можливості методу роблять його незамінним у фізиці, хімії та матеріалознавстві при дослідженні електронної структури, хімічних зв'язків, процесів, які проходять на поверхні в мікроелектроніці, емісійній електроніці, оптиці та інших областях, де визначний вплив на властивості здійснює поверхня.

В Удмуртії метод електронної спектроскопії розвивається у Фізико-математичному інституті Уральського відділення РАН, УдДУ, ІжДТУ та використовується на підприємствах «Іжмаш», Іжевський механічний завод та Іжевський мотозавод. Іжевськ — провідний центр Росії по розробці та виготовленню електронних магнітних спектрометрів. Великі спеціалісти в області електронної спектроскопії, лауреати Державної премії СРСР та Удмуртії — доктор технічних наук Віктор Трапезников та доктор фізико-математичних наук Ірина Шабанова.

До електронної спектроскопії належать:

• Фотоелектронна спектроскопія
  • Рентгенівська фотоелектронна спектроскопія
  • Фотоелектронна спектроскопія з кутовим розділенням
• Оже-спектроскопія
• Дифракція низькоенергетичних електронів
• Розсіювання низькоенергетичних електронів
• Тунельна спектроскопія

Джерела

• Зигбан К. и др. Поверхность. Физика, химия, механика;
• Электронная спектроскопия. М., 1971;
• Трапезников В. А., Шабанова И. Н. Рентгеноэлектронная спектроскопия сверхтонких поверхностных слоёв конденсированных систем. М., 1988.
• Удмуртская республика : энциклопедия / гл. ред. В. В. Туганаев. — Ижевск : Удмуртия, 2000. — 800 с. — 20 000 экз. — ISBN 5-7659-0732-6.