Сканувальний електронний мікроскоп: відмінності між версіями
| [неперевірена версія] | [неперевірена версія] |
Вилучено вміст Додано вміст
Немає опису редагування |
Немає опису редагування |
||
Рядок 15:
== Застосування ==
Скануючі мікроскопи застосовуються в першу чергу як дослідницький інструмент у [[фізика|фізиці]], [[матеріалознавство|матеріалознавстві]], [[електроніка|електроніці]], [[біологія|біології]]. В основному для отримання зображення досліджуваного зразка, яке може сильно змінюватись у залежності від типу [[детектор]]а, який використовується. Ці відмінності одержаних зображень дозволяють робити висновки про фізичні властивості поверхні, проводити дослідження рельєфу поверхні. Електронний мікроскоп практично єдиний прилад, який може дати зображення поверхні сучасної мікросхеми або проміжної стадії процесу фотолітографії.▼
[[Image:Misc pollen.jpg|thumb|Зображення [[пилок|пилку]]]]
[[Image:Pearlite.jpg|left|thumb|Зображення [[перліт]]у в сталі]]
▲Скануючі мікроскопи застосовуються в першу чергу як дослідницький інструмент у [[фізика|фізиці]], [[електроніка|електроніці]], [[біологія|біології]]. В основному для отримання зображення досліджуваного зразка, яке може сильно змінюватись у залежності від типу [[детектор]]а, який використовується. Ці відмінності одержаних зображень дозволяють робити висновки про фізичні властивості поверхні, проводити дослідження рельєфу поверхні. Електронний мікроскоп практично єдиний прилад, який може дати зображення поверхні сучасної мікросхеми або проміжної стадії процесу фотолітографії.
== Посилання ==
| |||