Атомно-силовий мікроскоп: відмінності між версіями
| [перевірена версія] | [перевірена версія] |
Вилучено вміст Додано вміст
Лапчук (обговорення | внесок) |
Немає опису редагування |
||
Рядок 15:
Атомний силовий мікроскоп винайшли в 1986 році [[Герд Бінніг]], [[Келвін Квейт]] і [[Крістоф Гербер]] майже одразу ж після винаходу [[скануючий тунельний мікроскоп|скануючого тунельного мікроскопа]]. Ідея була закладена Гердом Біннігом і [[Генріх Рорер|Генріхом Рорером]] (Нобелівська премія з фізики, 1986 рік). За допомогою атомно-силового мікроскопа можна одержувати зображення як фізичних, так і біологічних і хімічних об'єктів (вірусів і бактерій, атомів і молекул). Роздільна здатність таких мікроскопів сягає частки нанометрів, що дозволяє спостерігати атоми. Можливості цього приладу не обмежуються отриманням зображень. За допомогою атомно-силового мікроскопа можна вивчати взаємодію двох об'єктів: вимірювати [[Сила тертя|сили тертя]], [[Сила пружності|пружності]], [[Адгезія|адгезії]], а також переміщати окремі атоми, осаджувати і видаляти їх з будь-якої поверхні.
До 1989 року вже з'явилися атомні силові мікроскопи серійного виробництва. У наш час атомні силові мікроскопи стали стандартним методом отримання зображень поверхні. Щуп мікроскопа можна також використати для того, щоб контрольовано пересувати невеликі наноскопічні об'єкти в потрібне місце на
== Див. також ==
| |||