'''СкануючийСканувальний електронний мікроскоп''' ({{lang-en|Scanning Electron Microscope, SEM}}) — [[наука|науковий]] прилад, що дозволяє одержувати зображення поверхні зразка з великою [[роздільна здатність|роздільною здатністю]] (менше [[мікрометр]]а). Зображення, одержані за допомогою растрового електронного мікроскопа, є тривимірними і зручними для вивчення структури сканованої поверхні. Ряд додаткових методів ([[Метод енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії|EDX]], [[Метод дисперсійної рентгенівської спектроскопії за довжиною хвилі|WDX]]- методи), дозволяє отримувати інформацію про хімічний склад приповерхневих шарів.
