Мікроскопія: відмінності між версіями
| [перевірена версія] | [перевірена версія] |
Вилучено вміст Додано вміст
Олег.Н (обговорення | внесок) м декатегоризація |
Немає опису редагування |
||
Рядок 8:
F — [[Дзеркало]]; ]]
'''Мікроскопія''' ({{lang-en|microscopy}}, {{lang-de|Mikroskopie f}}) — сукупність [[метод]]ів застосування [[мікроскоп]]
== Принципи мікроскопії ==
Мікроскопи поділяють на три основні групи: оптичні, електронні та сканувальні зондові.
'''''Оптичні мікроскопи''''' працюють за рахунок фокусування, дифракції і відбиття електромагнітних хвиль видимого діапазону на препараті. Різновидами оптичної мікроскопії є [[флуоресцентна мікроскопія|флуоресцентна]], [[конфокальний мікроскоп|конфокальна]], багатофотонна мікроскопія.
'''''Електронний мікроскоп''''' побудований на тому самому принципі, тільки замість світлових хвиль використовуються потоки електронів із значно меншою довжиною хвилі, що дозволяє спостерігати об'єкти розміром менше ніж 0,2 мікрометри. Розрізняють сканувальні та трансмісивні електронні мікроскопи. ''Сканувальний'', або растровий електронний мікроскоп дає менше розділення (до 0,4 нанометру), але дозволяє створити тривимірне зображення поверхні досліджуваного об'єкту. Перевагою цих мікроскопів є широкий діапазон збільшення: від 10-кратного до 500 000 разів, що дозволяє створювати зображення як відносно великих, так і дуже дрібних об'єктів. Такі можливості досягаються точковим пучком електронів, який рухається по препарату, з наступним збиранням зображення поточково.
'''''Сканувальні зондові мікроскопи''''' використовують фізичний зонд, який рухається по поверхні зразка. Зонди являють собою тонкий щуп, приєднаний до детектору, який за допомогою вимірювання різних фізичних взаємодій (ефект квантового [[тунелювання]], [[ємність]], різниця потенціалів, [[п'єзоефект]], магнітне поле, [[сили Ван дер Ваальса]] тощо) поточково сканує поверхню. В залежності від типу взаємодій існує декілька десятків різновидів сканувальних зондових мікроскопів. ''[[Тунельний мікроскоп]]'' має роздільну здатність у десяті й соті частини нанометру, що дозволяє отримувати зображення окремих атомів у кристалічній ґратці твердого тіла. Його детектор визначає струми тунелювання, що виникають між зондом і атомами зразка. ''[[Атомно-силовий мікроскоп]]'' є вдосконаленням тунельного і здатен вимірювати значну кількість механічних і магнітних взаємодій, які здійснює зонд. Роздільна здатність атомно-силової мікроскопії також сягає розмірів окремих атомів.
== Див. також ==
| |||