Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

м
r2.7.2+) (робот додав: bs:Mikroskopija atomskih sila; косметичні зміни
м (Робот: добра стаття de:Rasterkraftmikroskop; косметичні зміни)
м (r2.7.2+) (робот додав: bs:Mikroskopija atomskih sila; косметичні зміни)
'''Атомний силовий мікроскоп''' (англійське скорочення: AFM) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати [[зображення]] [[поверхня|поверхні]] зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.
 
== Принцип дії ==
В атомному силовому мікроскопі поверхню сканує тонкий щуп, розташований на кінці консольної балки, яку називають [[кантилевер]]ом. Високоточне переміщення поверхні під щупом забезпечують [[п'єзоелектрик|п'єзоелектричні]] елементи, які змінюють свою довжину в залежності від прикладеної [[напруга|напруги]]. Рухаючись над нерівною поверхнею, щуп підіймається і опускається, і ці дуже малі вертикальні переміщення детектуються за допомогою лазерного променя, який падає на верхню поверхню консольної балки з прикріпленим [[дзеркало]]м. Хоча вертикальні переміщення дзеркала дуже малі, відбитий від нього промінь відхиляється на кут, досить значний, щоб його можна було виміряти за допомогою матричного фотодетектора. Отриманий сигнал аналізується за допомогою електроніки й перетворюється в зображення поверхні. Для забезпечення постійної сили між поверхнею та щупом і запобігання пошкоджень, використовується електронний механізм [[зворотний зв'язок|зворотнього зв'язку]].
 
== Історія ==
Атомний силовий мікроскоп винайшли [[Келвін Квейт]] та [[Крістоф Гербер]] 1986 року, майже одразу ж після винаходу [[скануючий тунельний мікроскоп|скануючого тунельного мікроскопа]]. До 1989 року вже з'явилися атомні силові мікроскопи серійного виробництва. У наш час атомні силові мікроскопи стали стандартним методом отримання зображень поверхні. Щуп мікроскопа можна також використати для того, щоб контрольовано пересувати невеликі наноскопічні об'єкти в потрібне місце на поверхі.
 
== Дивіться також ==
* [[Скануючий тунельний мікроскоп]]
 
== Зовнішні посилання ==
* [http://www.doitpoms.ac.uk/tlplib/afm/index.php Навчальний модуль з атомної силової мікроскопії Кембриджського університету]
 
[[ar:مجهر القوة الذرية]]
[[bg:Атомно-силов микроскоп]]
[[bs:Mikroskopija atomskih sila]]
[[ca:Microscopi de forces atòmiques]]
[[cs:Mikroskopie atomárních sil]]
711 076

редагувань