Атомно-силовий мікроскоп: відмінності між версіями

Атомний силовий мікроскоп винайшли [[Келвін Квейт]] та [[Крістоф Гербер]] 1986 року, майже одразу ж після винаходу [[скануючий тунельний мікроскоп|скануючого тунельного мікроскопа]]. До 1989 року вже з'явилися атомні силові мікроскопи серійного виробництва. У наш час атомні силові мікроскопи стали стандартним методом отримання зображень поверхні. Щуп мікроскопа можна також використати для того, щоб контрольовано пересувати невеликі наноскопічні об'єкти в потрібне місце на поверхі.