Електронний мікроскоп: відмінності між версіями
| [неперевірена версія] | [неперевірена версія] |
Вилучено вміст Додано вміст
Іванко1 (обговорення | внесок) правопис, оформлення |
|||
Рядок 8:
В електронному мікроскопі для отримання зображення використовуються фокусовані пучки електронів, якими бомбардується поверхня досліджуваного об'єкта. Зображення можна спостерігати різними способами — в променях, які пройшли через об'єкт, у відбитих променях, реєструючи [[вторинні електрони]] або [[рентгенівське випромінювання]]. Фокусування пучка електронів відбувається за допомогою спеціальних [[електронна лінза|електронних лінз]].
Електронні мікроскопи можуть збільшувати зображення у 2 млн. разів. Висока [[роздільна здатність]] електронних мікроскопів досягається за рахунок малої [[довжина хвилі|довжини хвилі]] електрона. В той час, як довжина хвилі видимого світла лежить в діапазоні від 400 до 800 [[нанометр|нм]], довжина хвилі електрона, прискореного у потенціалі 150 [[вольт|В]], складає 0,1 нм. Таким чином, в електронні мікроскопи можна
== Будова ==
| |||