Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

нема опису редагування
м (категоризація)
[[File:AFM3.jpg|thumb|Зображення, отримане за допомогою атомного силового мікроскопу. На зображенні тонка плівка металу]]
'''Атомний силовий мікроскоп''' (англійське скорочення: AFM) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати [[зображення]] [[поверхня|поверхні]] зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.
==Атомна силова мікроскопія==
 
Мікроскопія, що використовується для відтворення вигляду
поверхні (чи великої молекули) з точністю до окремого атома,
шляхом механічного дослідження контурів поверхні за допомогою спеціальної скануючої голки, мікроскопічний рух якої
вверх та вниз при пересуванні над поверхнею фіксується
спеціальним п’єзоелектричним сенсором.
== Принцип дії ==
В атомному силовому мікроскопі поверхню сканує тонкий щуп, розташований на кінці консольної балки, яку називають [[кантилевер]]ом. Високоточне переміщення поверхні під щупом забезпечують [[п'єзоелектрик|п'єзоелектричні]] елементи, які змінюють свою довжину в залежності від прикладеної [[напруга|напруги]]. Рухаючись над нерівною поверхнею, щуп підіймається і опускається, і ці дуже малі вертикальні переміщення детектуються за допомогою лазерного променя, який падає на верхню поверхню консольної балки з прикріпленим [[дзеркало]]м. Хоча вертикальні переміщення дзеркала дуже малі, відбитий від нього промінь відхиляється на кут, досить значний, щоб його можна було виміряти за допомогою матричного фотодетектора. Отриманий сигнал аналізується за допомогою електроніки й перетворюється в зображення поверхні. Для забезпечення постійної сили між поверхнею та щупом і запобігання пошкоджень, використовується електронний механізм [[зворотний зв'язок|зворотного зв'язку]].