Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

м
нема опису редагування
м (r2.7.2+) (робот додав: bs:Mikroskopija atomskih sila; косметичні зміни)
м
[[Файл:Atomic force microscope block diagram.svg|thumb|Блок-схема атомного силового мікроскопа]]
'''Атомний силовий мікроскоп''' (англійське скорочення: AFM)  — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати [[зображення]] [[поверхня|поверхні]] зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.
 
== Принцип дії ==
Атомний силовий мікроскоп винайшли [[Келвін Квейт]] та [[Крістоф Гербер]] 1986 року, майже одразу ж після винаходу [[скануючий тунельний мікроскоп|скануючого тунельного мікроскопа]]. До 1989 року вже з'явилися атомні силові мікроскопи серійного виробництва. У наш час атомні силові мікроскопи стали стандартним методом отримання зображень поверхні. Щуп мікроскопа можна також використати для того, щоб контрольовано пересувати невеликі наноскопічні об'єкти в потрібне місце на поверхі.
 
== ДивітьсяДив. також ==
* [[Скануючий тунельний мікроскоп]]
 
== Посилання ==
== Зовнішні посилання ==
* [http://www.doitpoms.ac.uk/tlplib/afm/index.php Навчальний модуль з атомної силової мікроскопії Кембриджського університету]