Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

м
Робот: добра стаття de:Rasterkraftmikroskop; косметичні зміни
м (Робот: добра стаття de:Rasterkraftmikroskop; косметичні зміни)
[[FileФайл:Atomic force microscope block diagram.svg|thumb|Блок-схема атомного силового мікроскопа]]
'''Атомний силовий мікроскоп''' (англійське скорочення: AFM) — високотехнологічний науковий прилад, що дозволяє отримувати [[зображення]] [[поверхня|поверхні]] зразків із роздільною здатністю порядку кількох нанометрів та маніпулювати наноскопічними об'єктами, наприклад, окремими молекулами.
 
 
== Історія ==
Атомний силовий мікроскоп винайшли [[Келвін Квейт]] та [[Крістоф Гербер]] 1986 року, майже одразу ж після винаходу [[скануючий тунельний мікроскоп|скануючого тунельного мікроскопа]]. До 1989 року вже з'явилися атомні силові мікроскопи серійного виробництва. У наш час атомні силові мікроскопи стали стандартним методом отримання зображень поверхні. Щуп мікроскопа можна також використати для того, щоб контрольовано пересувати невеликі наноскопічні об'єкти в потрібне місце на поверхі.
 
== Дивіться також ==
* [[Скануючий тунельний мікроскоп]]
 
== Зовнішні посилання ==
* [http://www.doitpoms.ac.uk/tlplib/afm/index.php Навчальний модуль з атомної силової мікроскопії Кембриджського університету]
 
{{physics-stub}}
 
[[Категорія:Фізика поверхні]]
 
{{Link GA|de}}
 
[[ar:مجهر القوة الذرية]]
711 076

редагувань