Відмінності між версіями «Атомно-силовий мікроскоп»

 
== Принцип дії ==
В атомному силовому мікроскопі поверхню сканує тонкий щуп, розташований на кінці консольної балки, яку називають [[кантилевер]]ом. Високоточне переміщення поверхні під щупом забезпечують [[п'єзоелектрик|п'єзоелектричні]] елементи, які змінюють свою довжину в залежності від прикладеної [[напруга|напруги]]. Рухаючись над нерівною поверхнею, щуп підіймається і опускається, і ці дуже малі вертикальні переміщення детектуються за допомогою лазерного променя, який падає на верхню поверхню консольної балки з прикріпленим [[дзеркало]]м. Хоча вертикальні переміщення дзеркала дуже малі, відбитий від нього промінь відхиляється на кут, досить значний, щоб його можна було виміряти за допомогою матричного фотодетектора. Отриманий сигнал аналізується за допомогою електроніки й перетворюється в зображення поверхні. Для забезпечення постійної сили між поверхнею та щупом і запобігання пошкоджень, використовується електронний механізм [[зворотний зв'язок|зворотнього зв'язку]].
 
== Історія ==